Haro Poniatowski, E., Fernández Guasti, M., & Camacho López, S. (1992). Phase conjugation in amorphous selenium thin films. Optics Letters, 17(4), 252-254. (ID: 18709) ^(E)

Martinez Garcia, A., & Tentori Santa Cruz, D. (1991). Evaluación de formas de superficies: comparación de distintas técnicas ópticas. Revista Óptica, 1(2), 13-19. (ID: 132)

Rincón, J. M., Márquez Becerra, H., & Rivera, E. (1991). Electron microscopy and EDX-microanalysis of photochromic silver halide glasses of the composition systems Al2O3-B2O3-SiO2 and Na2O-CaO-SiO2. Journal of Materials Science Letters, 26(5), 1192-1198. (ID: 1706)

Méndez Méndez, E. R., Ponce Camacho, M. A., Ruiz Cortés, V., & Gu, Z. (1991). Coherent effects in the scattering of light from random surfaces with symmetry. Optics Letters, 16(4), 123-125. (ID: 1705)

Maradudin, A. A., Lu, J. Q., Michel, T., Gu, Z., Dainty, J. C., Sant, A. J., Méndez Méndez, E. R., & Nieto Vesperinas, M. (1991). Enhanced backscattering and transmission of light from random surfaces on semi-infinite substrates and thin films. Waves in Random Media, 1(3), S129-S141. (ID: 1704)

Gu, Z., Dummer, R. S., Maradudin, A. A., Mcgurn, A. R., & Méndez Méndez, E. R. (1991). Enhanced transmission through rough-metal surfaces. Applied Optics, 30(28), 4094-4102. (ID: 1703)

Salazar Miranda, D., Camacho González, J., & Márquez Becerra, H. (1991). Caracterización de películas de Sio por la técnica de acoplamiento de prisma. Revista Óptica, 1(2), 40-43. (ID: 859)

Zavala Ortiz, S. A., Fitzpatrick, C., & Tentori Santa Cruz, D. (1991). Correlación óptica holográfica para la medida de variaciones de fase transversales. Revista Óptica, 1(2), 30-32. (ID: 857)

Escamilla Taylor, H. M., & Méndez Méndez, E. R. (1991). Speckle statistics from gamma-distributed random-phase screens. Journal of the Optical Society of America A, 18(2), 1929-1935. (ID: 134)

Méndez Méndez, E. R., Ponce Camacho, M. A., Ruiz Cortés, V., & Gu, Z. (1991). Photofabrication of one-dimensional rough surfaces for light-scattering experiments. Applied Optics, 30(28), 4103-4112. (ID: 133)